Статистический контроль процессов (SPC)

Мониторинг стабильности процесса с помощью контрольных карт (control charts, Shewhart charts): график метрики во времени с контрольными границами UCL/LCL (Upper/Lower Control Limit, обычно ±3σ от среднего). Процесс "под контролем" если точки внутри границ и случайны (no patterns). Типы карт: X̄-R chart (среднее и размах для непрерывных данных), p-chart (доля дефектов), c-chart (число дефектов). Пример: производство чипов, метрика — % выхода годных (yield), target 95%, UCL 97%, LCL 93%, если выход за границы → расследование причины (special cause variation). Реакция: остановить процесс, найти и устранить причину