Статистический контроль процессов (SPC)
Статистический контроль процессов (SPC)
Мониторинг стабильности процесса с помощью контрольных карт (control charts, Shewhart charts): график метрики во времени с контрольными границами UCL/LCL (Upper/Lower Control Limit, обычно ±3σ от среднего). Процесс "под контролем" если точки внутри границ и случайны (no patterns). Типы карт: X̄-R chart (среднее и размах для непрерывных данных), p-chart (доля дефектов), c-chart (число дефектов). Пример: производство чипов, метрика — % выхода годных (yield), target 95%, UCL 97%, LCL 93%, если выход за границы → расследование причины (special cause variation). Реакция: остановить процесс, найти и устранить причину
Загрузка карты...
Простыми словами
Статистический контроль процессов (SPC) — это способ понять, как в этой сфере устроены правила, решения и реальные последствия для людей.
Более точно
Статистический контроль процессов (SPC) — предметная область общественного знания, описывающая устойчивые механизмы взаимодействия участников, норм и институтов.
Зачем это нужно
Тема нужна, чтобы принимать более точные решения в контексте раздела «Six Sigma»: видеть структуру проблемы, ограничения и рабочие инструменты.
Примеры
Практический разбор включает кейсы, сравнение сценариев и проверку результата по понятным критериям.
Частые ошибки
Чаще всего ошибаются из-за упрощения причин, игнорирования контекста и отсутствия проверяемых критериев результата.
