Wafer Probe — Тестирование кристаллов до разрезки.
Wafer Probe
Тестирование кристаллов до разрезки. Probe card с иглами. Отбраковка дефектных чипов (ink dot). Yield mapping.
📖1 мин чтения📊Уровень 7📅19 февраля 2026 г.
🗺️ Mind Map
Загрузка карты...
Отбраковка дефектных чипов (ink dot).
Предпосылки и причины
События развивались под влиянием совокупности факторов.
Ход событий
Развитие определялось действиями участников и обстановкой.
Последствия и значение
Результаты оказали влияние на дальнейшее развитие событий.
❓Часто задаваемые вопросы
Тестирование кристаллов до разрезки. Probe card с иглами. Отбраковка дефектных чипов (ink dot). Yield mapping.