Wafer Probe — Тестирование кристаллов до разрезки.
Wafer Probe
Testing of crystals before dicing. Probe card with needles. Sorting out defective chips (ink dot). Yield mapping
Article body and graph labels may still appear in Russian where English translations have not been added yet.
Loading map...
Отбраковка дефектных чипов (ink dot).
Предпосылки и причины
События развивались под влиянием совокупности факторов.
Ход событий
Развитие определялось действиями участников и обстановкой.
Последствия и значение
Результаты оказали влияние на дальнейшее развитие событий.
❓Часто задаваемые вопросы
Тестирование кристаллов до разрезки. Probe card с иглами. Отбраковка дефектных чипов (ink dot). Yield mapping.